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臺式掃描電鏡操作簡便、成本較低，適用于材料的常規(guī)分析與質(zhì)量控制。在材料生產(chǎn)企業(yè)中，易用高效掃描電鏡用于快速檢測原材料的顆粒形貌、尺寸分布，以及產(chǎn)品表面的缺陷篩查等，為生產(chǎn)過程提供及時反饋。

中圖儀器國產(chǎn)電鏡標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

中圖儀器高分辨率sem掃描電鏡品牌具有空間自由+高效精準+定制適配+可靠保障的特點，能夠解決檢測場地受限、操作復(fù)雜拖慢進度、振動環(huán)境下數(shù)據(jù)不準測量痛點。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

中圖儀器CEM3000系列材料觀察分析一體化掃描電鏡4nm高清+40秒快檢！以“空間自由+高效精準+定制適配+可靠保障”四大核心優(yōu)勢，直擊B端檢測核心需求，讓微觀觀測更靈活、更高效、更可靠！

中圖儀器CEM3000系列納米形貌觀測掃描電鏡以“空間適配+性能強+易用高效“三大核心優(yōu)勢，成為你的檢測增效利器。它操作系統(tǒng)簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

CEM3000系列100Pa倉內(nèi)真空度掃描電鏡操作系統(tǒng)簡便，使用過程簡單快捷。具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求，包括半導(dǎo)體芯片失效分析。